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简单介绍：
XRF涂镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作，快速和无损的分析。可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的14Si到92U。
MAXXI 6针对较薄而复杂的样品，具有上乘的解决方案。MAXXI 6配备多准直器系统及超大样品舱，是*佳功能性与*高检测精度兼备的理想工具。
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